Учет паразитных эффектов при измерении эффективной диэлектрической проницаемости методом четвертьволнового резонатора

A. V. Kornev, G. G. Goshin

Аннотация


В статье предложена методика измерения диэлектрической проницаемости опорных шайб коаксиальных соединителей на основе четвертьволнового коаксиального резонатора. Проведен анализ, аппроксимация и учет паразитных эффектов, оказывающих наибольшее влияние на результат измерения диэлектрической проницаемости. Проведено сравнение результатов измерения шайб из разных материалов по предложенной методике с диэлектрической проницаемостью, измеренной на эталонной установке. Полученные результаты говорят о точности измерения эффективной диэлектрической проницаемости шайб по предложенному методу, сравнимой с точностью метода объемного резонатора для стержневых образцов H01p по ГОСТ 8.623-2015.

Коренев А. В., Гошин Г. Г. Учет паразитных эффектов при измерении эффективной диэлектрической проницаемости методом четвертьволнового резонатора. Ural Radio Engineering Journal. 2021;5(3):272–283. DOI: 10.15826/urej.2021.5.3.005.

 


Ключевые слова


коаксиальные резонаторы; диэлектрическая проницаемость; метод конечных элементов

Полный текст:

Без имени

Литература


Плодухин Б. В. Коаксиальные диапазонные резонаторы. М.: Советское радио; 1956. 240 с.

Прокимов А., Джуринский К., Смирнова Ю. Перспективные изоляционные материалы для радиочастотных кабелей и соединителей. Компоненты и технологии. 2017;(2):10–113.

Risley E. W. Discontinuity capacitance of a coaxial line terminated in a circular Waveguide. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques. 1969;17(2):86–92. DOI: 10.1109/TMTT.1969.1126893

Вайнштейн Л. А. Теория дифракции и метод факторизации. М.: Советское радио; 1966. 431 с.

Razaz M., Davies J. B. Capacitance of the abrupt transition from coaxial-to-circular waveguide. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques. 1979;27(6):564–569. DOI: 10.1109/TMTT.1979.1129672

Хибель М. Основы векторного анализа цепей [пер. С. М. Смольский; У. Филипп (ред.)]. М.: Издательский дом МЭИ; 2009. 500 с.