СОПОСТАВЛЕНИЕ СПОСОБОВ РАСЧЕТА СЕЧЕНИЙ РАССЕЯНИЯ В РЕНТГЕНОВСКОЙ ОБЛАСТИ СПЕКТРА

A. L. Tsvetyanskii, A. N. Eritenko, A. A. Polev

Аннотация


Проведено сравнение различных вариантов расчетов дифференциальных сечений рассеяния с экспериментально полученными значениями. Расчеты выполнены для случая рассеяния фотонов с энергией 22.1 кэВ, что соответствует характеристической линии Ag, на атомах химических элементов с 6 < Z < 81 и угла рассеяния 133º. Экспериментальные данные сопоставлены с результатами расчетов на основе различных модификаций форм-факторных (FF) приближений без учета (MFF) и с учетом аномального рассеяния (ASFs); по аппроксимационным уравнениям для атомных форм-факторов и некогерентной функции рассеяния для широкого диапазона (Z = 1-100) атомов химических элементов и параметра , результатов расчетов по программе Xraylib, в которой используется аппроксимация кубическими сплайнами квантово-механических расчетов, а также приближенных формул. Проведены количественные оценки отличий измеренных и расчетных результатов дифференциальных сечений рассеяния. Уточнено значение величины поправки на аномальное рассеяние в приближенной формуле для расчета дифференциального сечения когерентного рассеяния, предложенной А.В. Бахтиаровым и Г.А. Пшеничным.

Ключевые слова: рентгенофлуоресцентный анализ, рассеянное излучение, дифференциальные сечения когерентного и некогерентного рассеяния, аномальное рассеяние, форм-факторы.

  DOI: http://dx.doi.org/10.15826/analitika.2015.19.2.003


 


Полный текст:

PDF (Russian)

Литература


Bolotokov A.A., Danichev V.V. [Way of restoration of spectral dependence of exciting radiation in X-ray fluorescent spectrometers with capillary optics]. Zavodskaia laboratoriia. Diagnostika materialov [Industrial laboratory. Diagnostics of materials], 2008, vol.74, no.4, pp. 15-21 (in Russian).

Wegrzynek D, Markowicz A., Chaineo-Cano E. Application of the fundamental parameter method for in suti elemental determination using a portable energy-dispersive X-ray fluorescence spectrometer // X-ray spectrometry, 2003, vol.32, no. 2, pp. 119-128. DOI:10.1002/xrs.626

Ochi H., Watanabe S., Nakamura H. X-ray fluorescence analysis of lead in tin coating using the theoretical intensity of scattered x-rays // X-ray spectrometry, 2008, vol. 37, no. 3, pp. 245-248. DOI:10.1002/xrs.1054

Bakhtiarov A.V., Chernoberezhskaia S.A. [X-ray scattering coefficients]. Apparatura i metody rentgenovskogo analiza [X-ray equipment and the methods of analysis.], Leningrad, 1972, no. 11, pp. 200-218 (in Russian).

Blokhin M.A., Shveitcer I.G. Rentgenospektral'nyi spravochnik [X-ray reference]. Moskow, Science, GRFML, 1982, 374 p. (in Russian).

Kumar A., Shahi J.S., Mehta D, Singh N. Differential cross-section measurements for elastic scattering of 22.1 KeV photons by elements with 6 ≤ Z ≤ 81 // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B. 2002, vol. 194, no.2, pp. 105-114.

Kumar A., Shahi J.S., Puri S., Mehta D. Differential cross-section measurements for inelastic scattering for 22.1 KeV photons by elements with 4 ≤ Z ≤ 69 // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2002, vol.194, no.2, pp. 99-104.

Szaloki I. Empirical equations for atomic form factor and incoherent scattering function // X-ray spectrometry: 1996, vol.25, no.1, pp. 21-28. DOI: 10.1002/(SICI) 1097-4539.(199 601)25:1<21,::AID-XRS/32>3.0.CO;2-S

Hubbell J.H., Veilgele W.J., Briggs E.A., Brown R.T., Cromer D.T., Howerton R.J. Atomic form factors, incoherent scattering functions and photon scattering cross section // J. Phys. Chem. Ref. Data, 1975, vol. no. 3, pp. 471-538.

Shoonjans T., Brunetti A., Golosio B., del Rio M.S., Sole V.A., Ferrero C., Vincze L. The xraylib for X-ray-matter interactions. Recent developments // Spectrochimica Acta Part B, 2011, vol. 66, pp. 776-784.

Rao D.V., Cesareo R. and Gigante G.E. Elastic Scattering and the Associated Anomalous Dispersion in the Energy Range 8.63 ≤ E ≤ 42.75 KeV from Heavy Atoms // X-ray spectrometry, 1998, vol. 27, no. 6, pp. 381-389. DOI: 10.1002/ (SICI) 1097-4539 (199811/12) 27:6<381::AID-XRS284>3.0.00;2-V

Bakhtiarov A.V. Rentgenospektral'nyi analiz v geologii i geohimii [X-ray analysis in geology and geochemistry]. Leningrad, Nedra, 1985, 144 p. (in Russian).

Bakhtiarov A.V., Pshenichnyi G.A. [Formulas for the approximate calculation of the differential cross sections of lowenergy X-rays] Apparatura i Metody Rentgenovskogo Analiza [Equipment and techniques for X-ray analysis], Leningrad, 1973, no. 12, pp. 68-72 (in Russian).


Ссылки

  • На текущий момент ссылки отсутствуют.