РЕЦЕНЗИЯ НА КНИГУ R. KLOCKENKAEMPER AND A. VON BOHLEN “TOTAL-REFLECTION X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS AND RELATED METHODS”, Second Edition. John Wiley & Sons Inc., New Jersey, 2015, 519 pp. ISBN 978-1-118-46027-6otal

А. G. Revenko

Аннотация


Рентгенофлуоресцентный анализ с полным внешним отражением (РФА c ПВО) в настоящее время занимает важное место среди такихконкурентоспособных методов элементного спектрального анализа, как пламенная атомно-абсорбционная спектрометрия, электротермическая атомно-абсорбционная спектрометрия, масс-спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой и оптическая эмиссионная спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой. В работе представлена информация о монографии R. Klockenkaemper и A. von Bohlen “Total-reflection X-ray fluorescence analysis and relatedmethods”. Это второе издание популярной монографии R. Klockenkaemper (1997). Материал книги обсуждается по главам. По сравнению с первым изданием книга существенно дополнена свежей информацией, опубликованной в работах последних лет, и новым разделом: “Тренды и перспективы развития”. Издание дополнено также информацией о варианте РФА с использованием скользящего падения рентгеновского излучения (GI-XRF). Отмечено, что изложению технологических аспектов выполнения анализа (приготовления образцов к измерениям, регистрации и интерпретации спектров, проведения качественного и количественного анализа) посвящена самая большая глава книги (4 глава, 167 стр.). Представляет интерес обзор современных коммерчески доступных спектрометров РФА c ПВО. Авторы подготовили добротное справочное руководство, полезное как для начинающих, так и для квалифицированных специалистов. Представляется, что книга будет востребована в лабораториях академических и отраслевых институтов, а также в лабораториях промышленных предприятий.

Ключевые слова: рентгенофлуоресцентный анализ с полным внешним отражением, рецензия на книгу.

Ревенко А.Г.

 Институт земной коры СО РАН, Российская Федерация, 664033, г. Иркутск,

ул. Лермонтова, 128

 DOI: http://dx.doi.org/10.15826/analitika.2015.20.1.008


Полный текст:

PDF (Russian)

Литература


X-Ray Fluorescence Spectrometry (XRF) in Geoarchaeology. Ed. M.S. Shackley. New York, Dordrecht, Heildelberg, London: Springer, 2011. 230 p.

X-Ray Spectroscopy. Ed. Sh. K. Sharma. Rijeka: InTech, 2012. 280 p.

Pavlinskii G.V. Rentgenovskaia fluorestsentsiia: monografiia [X-ray fluorescence: monograph]. Irkutsk: Irkutskii Gos. Univ., 2013. 85 p. (in Russian).

Bakhtiiarov A.V., Savel’ev S.K. Rentgenofluorestsentnyi analiz mineral’nogo syr’ia [XRF analysis of mineral raw materials]. St. Petersburg: Sankt-Peterburgskii Gos. Univ., 2014. 132 p. (in Russian).

Klockenkaemper R., von Bohlen A. Total-reflection X-ray fluorescence analysis and related methods. Second Edition. New Jersey: John Wiley & Sons Inc., 2015. 519 p.

Revenko A.G. [Features of techniques of the analysis of geological samples using total reflection X-ray fluorescence spectrometers (TXRF)]. Analitika i Kontrol’ [Analytics and Control], 2010, v. 14, no. 2, pp. 42-64 (in Russian).

Alov N.V. [Total reflection X-ray fluorescence analysis: the principal physics and analytical application (Review)]. Zavodskaia laboratoriia. Diagnostika materialov [Industrial laboratory. Material diagnostics], 2010, v. 76, no. 1, pp. 4-14 (in Russian).

Streli C., Wobrawschek P., Meirer F., Pepponi G. Synchrotron radiation induced TXRF. J. Anal. At. Spectrom., 2008, vol. 23, pp. 792-798. DOI: 10.1039/b719508g

Von Bohlen A. Total-reflection X-ray fluorescence and grazing incidence X-ray spectrometry – Tools for micro- and surface analysis. A review. Spectrochim. Acta, 2009, vol. 64B, no. 10, pp. 821-832. DOI: 10.1016/j.sab.2009.06.012

Pashkova G.V., Revenko A.G. A Review of Application of Total Reflection X-ray Fluorescence Spectrometry to Water Analysis. Applied Spectroscopy Reviews, 2015, vol. 50, no. 6, pp. 443-473. DOI: 10.1080/05704928.2015. 1010205

Injuk J., Van Grieken R. Literature trends in x-ray emission spectrometry in the period 1990-2000 - a review. X-Ray Spectrom., 2003, vol. 32, no. 1, pp. 35-39. DOI: 10.1002/xrs.606

Klockenkamper R. Total-reflection X-ray fluorescence analysis. New York: Wiley Interscience, 1997. 245 p.

Revenko A.G. Specific features of X-ray fluorescence analysis techniques using capillary lenses and synchrotron radiation. Spectrochim. Acta, 2007, vol. 62B, no. 7, pp. 567-576. DOI: 10.1016/j.sab.2007.04.019


Ссылки

  • На текущий момент ссылки отсутствуют.