ПАМЯТИ УЧЕНОГО
Аннотация
Статья посвящается научному наследию российского ученого Роберта Исааковича Плотникова. Направления его научных интересов по рентгенофлуоресцентному бескристальному анализу сформировались в 70-е годы во время работы во Всесоюзном научно-исследовательском институте разведочной геофизики; в дальнейшем исследования по этому направлению и по кристалл-дифракционному анализу продолжились в НПП «Буревестник». В статье приведена биография ученого, а также представлены его основные научные труды. Р.И. Плотниковым был выполнен цикл работ по бескристальному анализу, где рассматривались вопросы конструкции приборов и методики их применения для анализа различных материалов. В исследованиях по кристалл-дифракционному анализу Плотниковым впервые в отечественной практике рентгенофлуоресцентного анализа (РФА) изучены и применены для рентгеновских спектрометров способы множественной регрессии и теоретических поправок; способы определения химического сдвига спектральных линий и идентификации материалов. Им были исследованы и усовершенствованы способы фундаментальных параметров, стандарта-фона, а также способы определения толщины фольг и покрытий. Он разработал способы априорной оценки погрешности РФА, статистические и физически обоснованные способы выбора уравнений связи, способы математического моделирования процессов, происходящих в рентгеновском спектрометре при взаимодействии излучения с веществом; предложил способы определения легких элементов в воздушной среде с использованием рассеянного излучения. Плотников также был автором способов сепарации материалов, основанных на повышении чувствительности при измерении эффективного атомного номера материала; кроме того, он обнаружил эффект некогерентного рассеяния флуоресцентного излучения, ранее не отмеченный в научных публикациях.
Ключевые слова: рентгеновский анализ, рассеянное излучение, регрессия, теоретические поправки, фундаментальные параметры, стали, пульпа, легкие элементы, химический сдвиг, идентификация, сепарация
Полный текст:
PDF (Russian)Литература
Plotnikov R.I., Pshenichnyi G.A. Fluorestsentnyi rentgenoradiometricheskii analiz [Fluorescent X-ray radiometric analysis]. Moscow, Atom Publ., Leningrad, 1973. 264 p. (in Russian).
Kalinin B.D., Plotnikov R.I. [An error estimate for X-ray analysis]. Zavodskaia laboratoriia. Diagnostika materialov [Industrial laboratory. Diagnostics of materials], 1992, vol. 58, no. 9, pp. 21-22 (in Russian).
Kalinin B.D., Plotnikov R.I. [X-ray fluorescence analysis of trace substances]. Zavodskaia laboratoriia. Diagnostika materialov [Industrial laboratory. Diagnostics of materials], 1998, vol. 64, no. 2, pp. 16-24 (in Russian).
Kalinin B.D., Plotnikov R.I. [The statistical error of X-ray fluorescence determination of trace element contents]. Analitika i kontrol’ [Analytics and control], 2010, vol. 14, no. 4, pp. 231-235 (in Russian).
Revenko A.G., Velichko Yu.I., Kalinin B.D., Popov N.V., Pavlinskiy G.V., Plotnikov R.I. [Consideration of mutual influences with elements of X-ray analysis of alloyed steel]. Zavodskaia laboratoriia. Diagnostika materialov [Industrial laboratory. Diagnostics of materials], 1974, vol. 40, no. 6. pp. 15-19 (in Russian).
Kalinin B.D., Plotnikov R.I. [Development of the method of equations due to the theoretical analysis of the coefficients in the X-ray fluorescence]. Zavodskaia laboratoriia. Diagnostika materialov [Industrial laboratory. Diagnostics of materials], 2008, vol. 74, no. 3, pp. 19-24 (in Russian).
Kalinin B.D., Plotnikov R.I., Sergeev Yu.I. [The impact of uncertainty on the excitation conditions error method of fundamental parameters in X-ray fluorescence analysis]. Zavodskaia laboratoriia. Diagnostika materialov [Industrial laboratory. Diagnostics of materials], 2010, vol. 75, no. 8, pp. 15-17 (in Russian).
Kalinin B.D., Plotnikov R.I. [Methods for constructing the constraint equations in quantitative X-ray fluorescence analysis on the basis of theoretical influence coefficients]. Zavodskaia laboratoriia. Diagnostika materialov [Industrial laboratory. Diagnostics of materials], 2009, vol. 75, no. 7, pp. 16-20 (in Russian).
Afonin V.P., Komyak N.I., Nikolaev V.P., Plotnikov R.I. Rentgenofluorestsentnyi analiz [X-ray fluorescence analysis]. Novosibirsk, Nauka Publ., 1991. 173 p. (in Russian).
Plotnikov R.I., Savelev S.K., Fedorov S.I. [Simulation of energy dispersive X-ray spectrometer in a computing environment X-ENERGO]. Optika i spektroskopiia [Optics and Spectroscopy], 1995, vol.78, no. 1, pp. 174-176 (in Russian).
Kalinin B.D., Plotnikov R.I., Savelev S.K. [Modeling of processes in X-ray fluorescence analysis]. VII Vserossiyskaia konferentsiia po rentgenospektral’nomu analizu [VII All-Russian Conference on X-ray analysis]. Novosibirsk, 2011, рp. 14 (in Russian).
Kalinin B.D., Plotnikov R.I Toktareva E.G. [Instrumental error of X-ray analysis of ferrous metallurgy products]. Zavodskaia laboratoriia. Diagnostika materialov [Industrial laboratory. Diagnostics of materials], 1982, vol. 48, no. 12, pp. 26-28 (in Russian).
Kalinin B.D., Plotnikov R.I. [X-ray fluorescence determination of alloying and impurity elements in homogeneous materials in the absence of adequate calibration samples]. Analitika i kontrol’ [Analytics and control], 2010, vol. 14, no. 4, pp. 236-242 (in Russian).
Lukyanchenko E.M., Plotnikov R.I. Sposob rentgenofluorestsentnogo analiza materialov [Method X-ray analysis of materials]. Patent RF no. 2372611, 2009 (in Russian).
Kalinin B.D., Plotnikov R.I., Savelev S.K. [Development of calibration methods in XRF analysis]. VII Vserossiiskaia konferentsiia po rentgenospektralnomu analizu [VII All-Russian Conference on X-ray analysis]. Novosibirsk, 2011, p. 12 (in Russian).
Kalinin B.D., Plotnikov R.I., Rechinskiy A.A. [By the possibility of determining the composition of the organic compounds of the scattered x-ray intensity]. Analitika i kontrol’ [Analytics and control], 2011, vol. 15, no. 2, pp. 163-169 (in Russian).
Kalinin B.D., Plotnikov R.I., Kostikov Yu.P. [By the possibility of determining the composition of the organic compounds of the scattered x-ray intensity]. Zhurnal prikladnoi khimii [Journal of Applied Chemistry], 2001, vol. 74, no. 11, pp. 1825-1828 (in Russian).
Kalinin B.D. Plotnikov R.I. Rechinskiy A.A. [The use of X-ray spectrometry for the identification of organic compounds and materials]. Analitika i kontrol’ [Analytics and control], 2011, vol. 15, no. 1, pp. 56-63 (in Russian).
Yafyasov A.M., Kalinin B.D., Plotnikov R.I. Universalnaia rentgenovskaia trubka dlia energodispersionnykh rentgenovskikh spektrometrov [Universal X-ray tube for energy-dispersive X-ray spectrometers]. Patent RF, application no. 2014153961/28(086315) from 26.12.2014, the decision to grant a patent from 19.01.2016 (in Russian, unpublished).
Yafyasov A.M., Kalinin B.D., Plotnikov R.I. Ustroistvo dlia energodispersionnogo rentgenofluorestsentnogo analiza na osnove vtorichnykh izluchatelei [Device for energy dispersive X-ray analysis based on secondary radiators]. Patent RF, application no. 2014151533/28(082549) from 18.12.2014, the decision to grant a patent from 14.01.2016 (in Russian, unpublished).
Kalinin B.D., Plotnikov R.I. [The scattering of the fluorescent X-rays in matter]. Analitika i kontrol’ [Analytics and control], 2013, vol. 17, no. 4, pp. 382-385 (in Russian).
Nikolskiy A.P., Kalinin B.D., Berdichevskiy G.V., Vershinin A.S., Gamayunova M.A, Zamaraev V.P., Lobasheva N.M., Lyakishev V.T., Plotnikov R.I., Chebukina V.M. [Automated X-ray monitoring system composition of the metal in the smelting process]. Zavodskaia laboratoriia. Diagnostika materialov [Industrial laboratory. Diagnostics of materials], 1982, vol. 48, no. 9, pp. 37-38 (in Russian).
Kalinin B.D., Plotnikov R.I. Podvalnyiy Ya.A. [X-ray spectral analysis of steels and alloys]. Zavodskaia laboratoriia. Diagnostika materialov [Industrial laboratory. Diagnostics of materials], 1993. vol. 59, no. 9, pp. 16-20 (in Russian).
Kalinin B.D., Plotnikov R.I. [X-ray analysis of steel and its industrial application]. Zavodskaia laboratoriia. Diagnostika materialov [Industrial laboratory. Diagnostics of materials], 1986, vol. 52, no. 2, pp. 22-30 (in Russian).
Dudik S.L., Kalinin B.D., Plotnikov R.I., Savelev S.K. [Evaluation of the depth of the output fluorescence from the samples of the materials and determining the thickness of films and coatings on the X-ray spectrometer "SPECTROSCAN MAX-GV»]. Analitika i kontrol’ [Analytics and control], 2006, vol. 10, no. 3-4, pp. 282-289 (in Russian).
Kalinin B.D., Karamyishev N.I., Plotnikov R.I., Pshenichnyiy G.A., Shimaraev M.V., Nabokov A.M., Sorokina N.M., Tsizin G.I. [The use of a portable spectrometer SPARK-1M for the determination of heavy metals in the environment]. Zavodskaia laboratoriia. Diagnostika materialov [Industrial laboratory. Diagnostics of materials], 1998, vol. 64, no. 8, pp. 15-19 (in Russian).
Ссылки
- На текущий момент ссылки отсутствуют.