Изображение на обложке

РЕЦЕНЗИЯ НА КНИГУ M. Haschke, J. Flock, M. Haller “Laboratory Applications of X-ray Fluorescence”, Wiley. 2021, 491 pp., 263 illustrations. ISBN 9783527816606. DOI: 10.1002/9783527816637

A. G. Revenko

Аннотация


Применение рентгенофлуоресцентного анализа (РФА) в последние годы постоянно расширяется. Возрастает число пользователей без специальной подготовки. В настоящей работе представлена информация о монографии M. Haschke, J. Flock и M. Haller “Laboratory Applications of X-ray Fluorescence”. Книга опубликована издательством Wiley-VCH. Рецензируемая книга написана специалистами с большим опытом работы в области РФА. Авторы внесли существенный вклад в развитие рентгенофлуоресцентного анализа. Книга состоит из Предисловия, списка сокращений и символов, информации об авторах, Введения, 18 глав, двух приложений (A - Таблицы, B – Важная информация), списка литературы и предметного указателя. Материал книги в рецензии обсуждается по главам. В книге представлены различные процедуры подготовки проб, типичные для РФА, и обсуждено их влияние на прецизионность и правильность анализа. Рассмотрены основные типы рентгеновских спектрометров, а также устройство, назначение и особенности функционирования отдельных компонентов приборов. Обсуждены основные приёмы измерения и оценки рентгеновских спектров и сделано сравнение метрологических характеристик РФА с другими аналитическими методами. В полном соответствии с названием книги основное внимание авторы уделили обсуждению вариантов решения с помощью РФА разнообразных аналитических задач. Рассмотрены однородные и неоднородные, твёрдые и жидкие материалы, применение в геологии, экологии, биологии, на промышленных предприятиях, в исследовательских лабораториях при изучении предметов, представляющих исторические и культурные ценности. Следует отметить наличие в книге Приложения “Важная информация”. Подготовленное авторами современное справочное руководство высокого качества будет полезным как для начинающих, так и для квалифицированных специалистов. Чёткое изложение материала позволяет рекомендовать его в качестве учебного пособия для студентов и магистрантов. Представляется, что книга будет востребована в лабораториях научно-исследовательских институтов и университетов, а также в лабораториях промышленных предприятий.

Ключевые слова: рентгенофлуоресцентный анализ, основы метода и примеры применения для различных материалов, рецензия на книгу

 DOI: http://dx.doi.org/10.15826/analitika.2022.26.1.008


Полный текст:

PDF (Russian)

Литература


REFERENCE

Revenko A.G. [Book review for a book by M. Haschke “Laboratory Micro-X-Ray Fluorescence Spectroscopy. Instrumentation and Applications”, Springer. Cham-Heidelberg-New York-Dordrecht-London. 2013, 356 pp.]. Analitika i kontrol’ [Analytics and Control]. 2017, vol. 21, no. 4, pp. 336-340. DOI: 10.15826/analitika.2017.21.4.003.

Haschke M., Flock J., Haller M. Laboratory Applications of X-ray Fluorescence. Wiley. 2021, 464 pp. DOI: 10.1002/9783527816637

Wobrauschek P., Kregsamer P., Ladisich W., Streli C., Pahlke S., Fabry L., Garbe S., Haller M., Knöchel A., Radtke M. TXRF with synchrotron radiation

Analysis of Ni on Si-wafer surfaces. Nucl. Instr. Meth. In Phys. Res. A. 1995, vol. 363, no. 3, pp. 619-620. DOI: 10.1016/0168-9002(95)00399-1

Wobrauschek P., Görgl R., Kregsamer P., Streli Ch., Pahlke S., Fabry L., Haller M., Knöchel A., Radtke M.1997, Analysis of Ni on Si-wafer surfaces using synchrotron radiation excited total reflection X-ray fluorescence analysis. Spectrochim. Acta, Part B: Atomic Spectroscopy, 1997, vol. 52, no. 7, pp. 901-906. DOI: 10.1016/S0584-8547(96)01674-6

Görgl R., Wobrauschek P., Kregsamer P., Streli Ch., Haller M., Knöchel A., Radtke M. Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis Excited by Synchrotron Radiation (SR-TXRF): Variation of Excitation Conditions and Sample Geometries. X-Ray Spectrom., 1997, vol. 26, no. 4, pp. 189-194. DOI: 10.1002/(SICI)1097-4539(199707)26:4<189::AID-XRS210>3.0.CO;2-0

Janssens K., Vincze L., Vekemans B., Adams F., Haller M., Knöchel A., Use of lead-glass capillaries for micro-focusing of highly-energetic (0–60 keV) synchrotron radiation. J. Anal. At. Spectr., 1998, vol. 13, pp. 339-350. DOI: 10.1039/A707700I

Haschke M., Haller M., Examination of poly-capillary lenses for their use in micro-XRF spectrometers. X-Ray Spectrom., 2003, vol. 32, no. 3, pp. 239-247. DOI: 10.1002/xrs.636

Smagunova A.N., Karpukova O.M. Metody matematicheskoi statistiki v analiticheskoi khimii: Uchebnoe posobie. [Methods of mathematical statistics in analytical chemistry: Textbook]. Irkutsk, Irkutsk State University, 2008. 339 p. (in Russian).

Smagunova A.N., Pashkova G.V., Belykh L.I. Matematicheskoe planirovanie eksperimenta v metodicheskikh issledovaniyakh analiticheskoi khimii: uchebnoe posobie. [Mathematical planning of an experiment in methodical research of analytical chemistry: Textbook]. St. Petersburg, Lan, 2017. 118 p. (in Russian).

Kalinin B.D., Plotnikov R.I. Podvalnyiy Ya.A. [X-ray spectral analysis of steels and alloys]. Zavodskaia laboratoriia. Diagnostika materialov [Industrial laboratory. Diagnostics of materials], 1993. vol. 59, no. 9, pp. 16-20 (in Russian).

Dudik S.L., Kalinin B.D., Rudnev A.V., Sergeyev J.I. [Analysis of steels and alloys on X-ray spectrometers of the spectrometer series “SPECTROSKAN-MAKS”]. Zavodskaia laboratoriia. Diagnostika materialov [Industrial laboratory. Diagnostics of materials], 2014, vol. 80, no. 1, pp. 19-26 (in Russian).

Revenko A.G. Application of X-ray Fluorescence Analysis for the Study of Metal Objects. Proc. of the IX Intern. Sci.-Practical. Conf. "Transport Infrastructure of the Siberian Region". 2018, Irkutsk: IrGUPS, 2018, vol. 2, pp. 465-470.

Ilyin N.P. [X-ray Fluorescence Analysis Based on the Relative Intensities of the spectral lines of the components. Analysis of arbitrary bulk samples in thin layers]. Zavodskaia laboratoriia. Diagnostika materialov [Industrial laboratory. Diagnostics of materials], 2005, vol. 71, no. 8, pp. 3-11. (in Russian).

Ilyin N.P. Quantitative X-Ray Fluorescence Analysis Based on the Relative Intensities of the Spectral Lines of the Components. Zavodskaia laboratoriia. Diagnostika materialov [Industrial laboratory. Diagnostics of materials], 2007, vol. 73, № 9. pp. 8-17.

Lyamina O.I., Kupriyanova T.A., Gimelfarb F.A. X-ray Fluorescence Analysis of Liquid Petroleum Products. J. of Analyt. Chem.,1995, vol. 50, no. 3, pp. 271-276.

Drobyshev A.I., Glebova S.M., Tikhonov V.A. X-ray Fluorescence Determination of Sulfur and Other Elements in Customs Control of Oil and Liquid Oil Products. J. of Analyt. Chem., 2006, Vol. 61, No. 8, pp. 777–780. DOI: 10.1134/S1061934806080107

Kreknin Yu.I., Safonov L.A. X-Ray Spectral Analysis of Wear Products of Gas Turbine Engines by the Method of Fundamental Parameters. Zavodskaia laboratoriia. Diagnostika materialov [Industrial laboratory. Diagnostics of materials], 2007, vol. 73, no. 4, pp. 12-15.

Pavlinskiy G.V., Vladimirova L.I., Drokov V.G., Stepuk T.D. X-Ray Fluorescence Control of Heterogeneity of Waste Oil Sediments of Aircraft Engines. Zavodskaia laboratoriia. Diagnostika materialov [Industrial laboratory. Diagnostics of materials], 2016, vol. 82, no. 2, pp. 40-42.

Drokov V.G., Pavlinskiy G.V., Sinitskaya A.V., Khodunaev A.Yu. Investigation of Wear Particles in Aircraft Gas Turbine Engine Oil Samples Using X-Ray Fluorescence Analyzer FOCUS-2. Zavodskaia laboratoriia. Diagnostika materialov [Industrial laboratory. Diagnostics of materials], 2017, vol. 83, no. 4, pp. 32-36.

Revenko A.G. Features of Methods for Analyzing Geological Samples Using TXRF Spectrometers. Analitika i kontrol’ [Analytics and Control]. 2010, vol. 14, no. 2, pp. 42-64.

Pashkova G.V., Revenko A.G. A Review of Application of Total Reflection X-ray Fluorescence Spectrometry to Water Analysis. Applied Spectroscopy Reviews, 2015, vol. 50, no. 6, pp. 443-473. DOI: 10.1080/05704928.2015. 1010205

Revenko A.G. Application of X-ray fluorescence analysis in biology and medicine Analitika i kontrol’ [Analytics and Control]. 2020, vol. 24, no. 4, pp. 1-41. DOI: 10.15826/analitika.2020.24.4.00

Ignatova Yu.A., Eritenko A.N., Revenko A.G., Tsvetyansky A.L. X-ray fluorescence analysis of solid-state films and coatings. Analitika i kontrol’ [Analytics and Control]. 2011, vol. 15, no. 2, pp. 126-140.

Revenko A.G. 80th birthday anniversary of Professor Muradin Abubekirovich Kumakhov (1941-2014). Analitika i kontrol’ [Analytics and Control]. 2021, vol. 25, no. 3, pp. 241-250.




DOI: https://doi.org/10.15826/analitika.2022.26.1.008

Ссылки

  • На текущий момент ссылки отсутствуют.